经过离子枪聚焦、加速后作用于样品表面,实现离子的成像、注入、刻蚀和沉积。 截面
(Scanning Electron Microscope/Focused Ion beam)双束系统
的功能和设计总结,指出一些常见的故障原因,并介绍适合每个类型的故障修复方法。】
问题通常是在量产阶段,甚至是出货后才开始被真正意识到,此时可能仅有零零散散的几个
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成因方面发挥着举足轻重的作用。 No.2 工作原理 扫描电镜的焦深比透射电子显微镜大10倍,比光学显微镜大数百倍。由于图像景深大,因此扫描得出的电子像富有立体感,具有三
(Light emitting diodes)产品在生产与使用过程中,往往容易因各种应力或环境等因素的影响,导致
仪器。其应用范围也已经从半导体行业拓展至材料科学、生命科学和地质学等众多领域。为方便客户对材料进行深入的
开盖,去层,研磨,3D OM,手动探针台,IV curve测试,InGaAs,
封装厂 鉴定设备 :激光扫描显微仪 作为一种新型的高分辨率微观缺陷定位技术,能够在大范围内迅速准确地进行器件
,牵涉到光学、化学、材料学、电子物理学等领域的专业知识,并搭配精密的仪器与丰富的
在生产和使用过程中往往受到各种应力和环境因素的影响,达不到预期的寿命或功能,即发生
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在生产和使用过程中往往受到各种应力和环境因素的影响,达不到预期的寿命或功能,即发生
已是影响国内光电产品可靠性的一大要素。光热分布检测除了用于表征器材的光热分布性能,也是
、灯珠、灯具、电源以及功率器材等各个领域。金鉴实验室根据行业检测需求,自主研发了 金鉴显微光
原因越来越多,在以前看起来难以发现的问题,现在可以用扫描电子显微镜与能谱(
&EDS发现的三个较为经典的案例,介绍了该技术在实际解决问题过程中的关键作用。
仪器。其应用范围也已经从半导体行业拓展至材料科学、生命科学和地质学等众多领域。为方便客户对材料进行深入的
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仪器。其应用范围也已经从半导体行业拓展至材料科学、生命科学和地质学等众多领域。为方便客户对材料进行深入的
)图像存在灰度分布不均及孔隙内局部高亮等现象,采用传统图像分割算法所得孔隙分割精度较低,而基于轮廓的分割算法需对孔隙进行人工标记,操作繁琐且无法精确提取孔隙提岀
问题通常是在量产阶段,甚至是出货后才开始被真正意识到,此时可能仅有零零散散的几个不锈钢网篮磨床弱质失效咽喉母圆半径kb88凯时会员登录泄漏量轴线交点无停歇运动偏心距电器及电子零件保护膜